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測試與失效分析

Testing and Failure Analysis
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高分辨率3D計算機斷層掃描（XCT）

設(shè)備型號：XTH 225 ST
針對各類儲能業(yè)務(wù)需求，TIES力圖發(fā)展成為布局全面，面向市場，集測試分析、失效分析、資質(zhì)認(rèn)證、技術(shù)開發(fā)、工程放大、智能制造、高價值信息服務(wù)、高端培訓(xùn)為一體的研發(fā)型企業(yè)。 聯(lián)系我們

技術(shù)參數(shù)

密度測量范圍（g/cm3） 0.000-3.000

密度準(zhǔn)確度d（g/cm3） ±0.001

密度重復(fù)性d（g/cm3） ±0.0005

樣品溫度范圍（℃） 0-50

環(huán)境溫度范圍（℃） Densito：-10-50

DensitoPro：0-50

結(jié)果存儲 1100

測量單位(a) 密度;比重;白利糖度;API(b);波美標(biāo)度;乙醇（酒精）;H2SO4;Proof（US和IP）;柏拉圖;用戶定義的濃度


應(yīng)用范圍

適用于所有行業(yè)

應(yīng)用廣泛：無論是實驗室還是現(xiàn)場，本儀器可用于多種行業(yè)
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