Testing and Failure Analysis
技術(shù)參數(shù)
最大粒徑范圍:0.3 nm—10 μm
濃度范圍:0.1 ppm--40%w/v
檢測角度:175°和12.8°
最小樣品量:12 μL
Zeta電位范圍:無實(shí)際限制
最大樣品濃度:40% w/v
最高電導(dǎo)率:200 mS/cm
最小樣品量:20 μL
檢測技術(shù):M3-PALS
分子量范圍(DLS):342--2×107 Da
分子量范圍(SLS):980--2×107 Da
應(yīng)用范圍
新一代Zetasizer Nano 系列納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀
融合多項(xiàng)專利技術(shù)
粒度范圍極寬:0.3nm--10μm
濃度范圍廣:0.1ppm--40%w/v
高分辨率高靈敏度Zeta電位測量
特制高性能He-Ne激光器,提供更高的信噪比
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