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測試與失效分析

Testing and Failure Analysis
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比表面積分析儀（BET）

設(shè)備型號(hào)：NOVAtouch
針對各類儲(chǔ)能業(yè)務(wù)需求，TIES力圖發(fā)展成為布局全面，面向市場，集測試分析、失效分析、資質(zhì)認(rèn)證、技術(shù)開發(fā)、工程放大、智能制造、高價(jià)值信息服務(wù)、高端培訓(xùn)為一體的研發(fā)型企業(yè)。 聯(lián)系我們

技術(shù)參數(shù)

1、孔隙度：3.5-5000?；

2、比表面積：低至0.01m2/g；

3、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理功能

外比表面（STSA）, 微孔面積, 微孔體積, 平均吸附能,統(tǒng)計(jì)厚度, 超臨界吸附分析等

可計(jì)算分形維數(shù)，判斷孔型

具有全部孔分析模型，包括SF,HK,以及超過15種模型的最完整的“密度函數(shù)理論（DFT）”庫等


應(yīng)用范圍

廣泛應(yīng)用于新能源、碳材料、催化劑、有機(jī)材料、礦物質(zhì)、金屬粉末和鐵酸鹽、骨骼、制藥、環(huán)境、建筑領(lǐng)域。
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