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測試與失效分析

Testing and Failure Analysis
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紫外-可見分光光度計

設(shè)備型號：TU-1901
針對各類儲能業(yè)務需求，TIES力圖發(fā)展成為布局全面，面向市場，集測試分析、失效分析、資質(zhì)認證、技術(shù)開發(fā)、工程放大、智能制造、高價值信息服務、高端培訓為一體的研發(fā)型企業(yè)。 聯(lián)系我們

技術(shù)參數(shù)

1.波長范圍： 190nm~900nm 

2.波長準確度：±0.3nm(開機自動校準) 

3.波長重復性：0.1nm 

4.光譜帶寬： 0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、5.0nm 


應用范圍

定量分析、純度分析、結(jié)構(gòu)分析、定性分析

  

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