Testing and Failure Analysis
技術(shù)參數(shù)
1.磁體:使用ASCENDTM超超屏蔽超導(dǎo)磁體系統(tǒng),磁場強度:9.397特斯拉,54 mm室溫腔,液氮保持時間大于300天。
2.探頭:BBFO SMART二合一觀察寬帶探頭,H去偶,氘鎖通道,標準寬帶范圍:BB=19F和31P-15N,變溫范圍:-150~+150℃。
設(shè)備優(yōu)勢:
該設(shè)備可以實現(xiàn)非常好的現(xiàn)場穩(wěn)定性。
外部干擾抑制(EDS)可以屏蔽掉高達99%的外部磁場干擾。
具有最小的雜散磁場。
由于尺寸更小、重量更輕,磁體更易于安裝和使用。
應(yīng)用范圍
1.常規(guī)一維譜(1H,13C,31P,19F等)和常規(guī)二維譜(COSY,NOESY,HMQC,HMBC,TOCSY等)的測試。
2.微量樣品的測定及混合物定量分析。
3.在電池領(lǐng)域:可用于化學結(jié)構(gòu)分析、構(gòu)型和構(gòu)象分析、結(jié)構(gòu)與物性的研究、定量分析等,以及反應(yīng)機理研究、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗、失效分析、產(chǎn)品開發(fā)等。
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