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測試與失效分析

Testing and Failure Analysis

紅外光譜儀（FTIR）

設備型號：VERTEX 80V型
針對各類儲能業(yè)務需求，TIES力圖發(fā)展成為布局全面，面向市場，集測試分析、失效分析、資質(zhì)認證、技術(shù)開發(fā)、工程放大、智能制造、高價值信息服務、高端培訓為一體的研發(fā)型企業(yè)。 聯(lián)系我們

技術(shù)參數(shù)

1. 光譜分辨率，優(yōu)于0.06 cm

2.覆蓋太赫茲至紫外波段的全光譜范圍

3.UltraScanTM真正準直、高分辨率的專利干涉儀

4.雙通道、24位高速模/數(shù)轉(zhuǎn)換器


應用范圍

VERTEX適用于各種極限條件下的研究工作，如：高分辨率測試、超快速掃描、步進掃描及UV擴展譜區(qū)的測量。布魯克公司獨特的數(shù)字化DigiTectTM數(shù)據(jù)采集專利技術(shù)有效防止外部信號干擾，確保了很好的信噪比

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X射線衍射儀（XRD）
技術(shù)參數(shù)（1）角度重現(xiàn)性： 0.0001（2）角度精度： 0.0001（3）2θ角范圍：-110~168（4）發(fā)生器最大輸出功率：3KW應用范圍物相定性定量分析、結(jié)晶度分析、晶胞參數(shù)計算、晶粒大小分析、高低溫原位分析、透射分析。  

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400MHz核磁共振譜儀(NMR）
技術(shù)參數(shù)1.磁體：使用ASCENDTM超超屏蔽超導磁體系統(tǒng)，磁場強度：9.397特斯拉，54 mm室溫腔，液氮保持時間大于300天。2.探頭：BBFO SMART二合一觀察寬帶探頭，H去偶，氘鎖通道，標準寬帶范圍：BB=19F和31P-15N，變溫范圍：-150~+150℃。設備優(yōu)勢：該設備可以實現(xiàn)非常好的現(xiàn)場穩(wěn)定性。外部干擾抑制(EDS)可以屏蔽掉高達99%的外部磁場干擾。具有最小的雜散磁場。由于尺寸更小、重量更輕，磁體更易于安裝和使用。應用范圍1.常規(guī)一維譜（1H，13C，31P，19F等）和常規(guī)二維譜（COSY，NOESY，HMQC，HMBC，TOCSY等）的測試。2.微量樣品的測定及混合物定量分析。3.在電池領(lǐng)域：可用于化學結(jié)構(gòu)分析、構(gòu)型和構(gòu)象分析、結(jié)構(gòu)與物性的研究、定量分析等，以及反應機理研究、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗、失效分析、產(chǎn)品開發(fā)等。

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