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Testing and Failure Analysis
掃描電子顯微鏡（SEM）
X射線光電子能譜儀（XPS）
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）
俄歇電子能譜儀（AES）
場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡(TEM)
3D光學(xué)顯微鏡
原子力顯微鏡（AFM）
金相顯微鏡
測(cè)試與失效分析
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工藝工程
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